Nội dung
Samsung vừa đưa ra một tuyên bố khá ngắn gọn, nói rằng bộ đôi Galaxy S7 và Galaxy S7 Edge không gặp bất kỳ vấn đề nào về pin.

Sau khi rộ lên những thông tin nói rằng, một số người dùng tại Mỹ đã gặp vấn đề với chiếc Galaxy S7 dẫn đến việc máy bị nổ gây hoang mang. Chính điều này đã buộc Samsung phải đưa ra những tuyên bố nhằm trấn an người dùng tại thị trường vốn đã khó tính nhất thế giới, đồng thời tránh lặp lại bài học sương máu từ Galaxy Note 7 vẫn còn âm ỉ.

Samsung tuyên bố gia đình galaxy s7 không bị lỗi pin

Samsung Galaxy S7 Edge

Dưới đây là tuyên bố của Samsung:

“Hiện vẫn chưa có trường hợp nào được xác nhận có lỗi pin trong tổng số hơn 10 triệu thiết bị (Galaxy S7 và Galaxy S7 edge) đang được sử dụng tại Mỹ. Tuy nhiên, chúng tôi đã xác nhận có một số trường hợp máy bị phá hỏng nghiêm trọng từ bên ngoài tới mức có thể phát nổ. Cho tới khi Samsung kiểm tra các thiết bị, rất khó để có thể biết được nguyên nhân thật sự của các trường hợp phát nổ được báo cáo”.

Đây được xem là động thái khôn ngoan của công ty Hàn Quốc trong việc bảo vệ sản phẩm của mình, bên cạnh đó mùa mua sắm cuối năm đang đến gần, nên đây được xem là một chiêu tiếp thị của Samsung nhằm trấn an người dùng rằng bộ đôi Galaxy S7 và Galaxy S7 Edge vẫn rất an toàn.

Nguồn thông tin được HOCHOIMOINGAY.com sưu tầm từ Internet

Cùng chuyên mục

Iphone 6 đẹp mê hồn.

Một bản concept mới về chiếc điện thoại thông minh iPhone 6 đầu tiên với giao diện iOS 7 được thiết kế bởi ADR Studio. ​ Về thiết kế, mẫu iPhone 6 concept đã có chút thay đổi khi nút Home đã được...

Xem thêm  

Sản phẩm mới dành cho dân phượt

Thiết kế nhỏ gọn thời trang và tích hợp nhiều tính năng chụp ảnh "đỉnh", điện thoại thông minh đang dần trở thành "người bạn đường" đắc lực cho giới trẻ trên hành trình khám phá những miền...

Xem thêm  

Top smartphone giá tầm 3 triệu trong tuần

Nhu cầu sử dụng smartphone ngày càng lớn. Tuy nhiên không phải ai cũng có thể tậu được những siêu phẩm như HTC One hay Galaxy S4. Trên thị trường vẫn có những dòng máy có cấu hình tương đối và mức...

Xem thêm